详细摘要: LINT-208G型手动平面度测试仪一.仪器特点该仪器利用美国进口的高精度激光源进行设计,利用激光干涉方法对WAFER的平整度进行测量
产品型号:所在地:北京市更新时间:2024-11-19 在线留言北京三禾泰达技术有限公司
详细摘要: LINT-208G型手动平面度测试仪一.仪器特点该仪器利用美国进口的高精度激光源进行设计,利用激光干涉方法对WAFER的平整度进行测量
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